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仪器型号：德国IONTOF TOF-SIMS 5飞行时间二次离子质谱仪
测试周期：3-10个工作日
如果是测试质谱和二维成像，因为没有损伤，可以选取同一个位置进行测试，且采集完正离子后可以继续采集负离子信息；如果是做深度分析，则可以在同一个样品上选取不同的区域，分别测试正离子和负离子。
不能。TOF-SIMS静态二次离子质谱测试离子强度，为定性测试，不能定量。
一般溅射厚度为2到3层原子，小于1nm。
固定电话：0532-8675 9646移动电话：17685860716时间：9：00-18：00（节假日除外）
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